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シリーズ名 : I/F ESSENCE


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本書は,研究開発のための計測技術について,基礎から応用まで解説しています.カオス理論や自己回帰モデルなどの新しい発想をデータ処理に加えています.前から順番に読まなくても,どこからでも必要とする計算技法やその理論を理解できるようにまとめてあります.・・・詳細を読む
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