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シリーズ名 : I/F ESSENCE


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本書は研究開発のための計測技術について,基礎から応用まで解説しています.カオス理論や自己回帰モデルなどの新しい発想をデータ処理に加えています.どこから読みはじめても,必要とする計算技法やその理論を理解できるようにまとめてあります.・・・詳細を読む
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